liste des équipements de caractérisation de surfaces et XPS

05.5 Spectromètre de photoélectrons sous ultravide, diffraction d’électrons rapides (RHEED) et lents (LEED) + Croissance de couches minces par MBE

LPSE

4, rue des frères Lumière 68093 Mulhouse

05.5 Spectromètre de photoélectrons X (XPS) de marque Thermo VG et de modèle Multilab 2000

Laboratoire des Matériaux, Surfaces et Procédés pour la Catalyse

ECPM, bâtiment R3, niveau 1

05.5 Spectromètre XPS SES200

ICSI

15 rue Jean Starcky, BP 2488 – 68057 Mulhouse