20 mai 2012ContactPlan du site
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Vous êtes ici : Accueil / Catalogue / 05 Caractérisation

05 Caractérisation

  • 05.1 Caractérisation physicochimique
  • 05.2 Caractérisation thermique
  • 05.3 Caractérisation mécanique
  • 05.4 Caractérisation spectroscopique
  • 05.5 Caractérisation de surfaces, XPS

Liste des équipements

  • Tags : 05.5 Caractérisation de surfaces et XPS

    05.5 Spectromètre de photoélectrons sous ultravide, diffraction d’électrons rapides (RHEED) et lents (LEED) + Croissance de couches minces par MBE

    LPSE

    4, rue des frères Lumière 68093 Mulhouse

  • Tags : 05.5 Caractérisation de surfaces et XPS

    05.5 Spectromètre de photoélectrons X (XPS) de marque Thermo VG et de modèle Multilab 2000

    Laboratoire des Matériaux, Surfaces et Procédés pour la Catalyse

    ECPM, bâtiment R3, niveau 1

  • Tags : 05.5 Caractérisation de surfaces et XPS

    05.5 Spectromètre XPS SES200

    ICSI

    15 rue Jean Starcky, BP 2488 – 68057 Mulhouse

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