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Diffraction de rayons X
06.2 Diffraction de rayons X
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Fiche d'identité de l'équipement |
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Thématiques abordées :
Mesures radiocristallographiques, identification de phases cristallines, …
Caractéristiques techniques :
Goniomètre Théta-théta
Tube de diffraction X au Cu
Porte échantillon tournant, porte échantillon multi usages
Détecteur semi-conducteur ultra rapide
Laboratoire : CRITT Matériaux Alsace
Localisation : 19 rue de St Junien 67300 SCHILTIGHEIM
Nom du correspondant : Mostafa NAJMI
Coordonnées du correspondant :
Téléphone : 03 88 19 15 10
Mail : m.najmi@critt.fr
Site web : www.critt.fr


