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Microscope à force atomique (AFM)
08.1 Microscope à force atomique (AFM)
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Fiche d'identité de l'équipement |
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Thématiques abordées :
Etude de la morphologie de couches minces
Visualisation de la topographie de la surface d’un échantillon
Caractéristiques techniques :
Veeco Nanoscope IIIa
Laboratoire : LIPHT
Localisation : 25, rue Becquerel 67087 Strasbourg
Coordonnées du correspondant :
03 88 10 62 33
Site web : www-ecpm.u-strasbg.fr/Polymeres/Interface


