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Microscope à force atomique (AFM)
08.1 Microscope à force atomique (AFM)
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Fiche d'identité de l'équipement |
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Thématiques abordées :
Semi-conducteurs : matériaux et nanostructures
Polymères semi-conducteurs
Analyses en champ proche
Caractéristiques techniques :
AFM de la marque NT-MDT de type SMENA
Modes de fonctionnement : AFM (contact - semi-contact – non-contact), MFM, EFM, SCM, SKM…etc.
Laboratoire : InESS
Localisation : 23, rue du Lœss, BP 20, 67037 Strasbourg Cedex 2
Nom du correspondant : KERN Philippe
Coordonnées du correspondant :
Téléphone : 03 88 10 68 69
Mail : philippe.kern@iness.c-strasbourg.fr
Site web : www-iness.c-strasbourg.fr


