08.1 Microscope à force atomique (AFM)

#

Fiche d'identité de l'équipement

#

Thématiques abordées :

Semi-conducteurs : matériaux et nanostructures
Polymères semi-conducteurs

Analyses en champ proche

Caractéristiques techniques :
AFM de la marque NT-MDT de type SMENA
Modes de fonctionnement : AFM (contact - semi-contact – non-contact), MFM, EFM, SCM, SKM…etc.

Laboratoire : InESS

Localisation : 23, rue du Lœss, BP 20, 67037 Strasbourg Cedex 2

Nom du correspondant : KERN Philippe

Coordonnées du correspondant :
Téléphone : 03 88 10 68 69

Mail : philippe.kern@iness.c-strasbourg.fr

Site web : www-iness.c-strasbourg.fr