Thématiques abordées :

Mesures de la résistance superficielle (et résistivité) de matériaux semi-conducteurs 


Formation de jonctions pour la microélectronique et le photovoltaïque

Caractéristiques techniques :
• Source de tension HP
• Source de courant Keithley
• Cartographie par balayage de l’échantillon (10x10cm2)
• Manip manuelle et automatisée

Laboratoire : InESS

Localisation : 23 rue du Lœss, Bat. 33, Strasbourg

Nom du correspondant : A. Focsa

Coordonnées du correspondant :
Téléphone : 03 88 10 63 29

Mail : focsa@iness.c-strasbourg.fr

Site web : www-iness.c-strasbourg.fr