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Spectromètre de photoélectrons sous ultravide, diffraction d’électrons rapides (RHEED) et lents (LEED) + Croissance de couches minces par MBE
05.5 Spectromètre de photoélectrons sous ultravide, diffraction d’électrons rapides (RHEED) et lents (LEED) + Croissance de couches minces par MBE
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Fiche d'identité de l'équipement |
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Thématiques abordées :
Caractéristiques techniques :
Analyseur CLAM (XPS, UPS, LEED, RHEED, Enceinte MBE Si, 2 canons à électrons (10kW) cellules MBE, Source Plasma ECR, Spectromètre de masse
Laboratoire : LPSE
Localisation : 4, rue des frères Lumière 68093 Mulhouse
Nom du correspondant : Mickael Derivaz, Jean-Luc Bischoff
Coordonnées du correspondant :
Téléphone :
03 89 33 60 07 (Mickael Derivaz)
03 89 33 63 54 (Jean-Luc Bischoff)
Mail :
mickael.derivaz@uha.fr
jean-luc.bischoff@uha.fr
Site web : www.lpse.uha.fr